- -
UPV
 
Microsc˛pia electr˛nica de transmissiˇ d'alta resoluciˇ
Servei de Microsc˛pia Electr˛nica Microsc˛pia electr˛nica de transmissiˇ d'alta resoluciˇ  ...

El microscopi electrònic de transmissió amb 200 kV està especialment indicat per a la nanocaracterització estructural i analítica de materials, ja que disposa d´un canó d´electrons d´emissió de camp (FEG) que permet obtenir feixos molt intensos de mida subnanomètrica. Aquest equip incorpora una lent objectiu d´ultra-alta-resolució que li confereix les capacitats següents:

Resolució

Punt a punt

0,19 nm.

Entre línies

0,1 nm.

Mida del feix

Mode TEM

2 – 5 nm.

Mode EDS, NBD, CBD

0,5 – 2,4 nm.

Mode STEM

0,2 nm.

Al portamostres convencional amb una inclinació de +/- 25º s’hi pot acoblar un suport especial d´angle alt (+/- 70º) per a ús en tomografia. A més, es pot utilitzar un portamostres de doble inclinació per a estudis de difracció. El moviment de la mostra depèn d´un goniòmetre que inclou un mecanisme piezoelèctric que permet el desplaçament suau i la correcció de la deriva a grans augments.

Disposa d´una càmera CCD d´alta resolució (2048 x 2048 píxels) de la marca GATAN, model SC200, per a l´obtenció d´imatges, i del programari Digital Micrograph per al control d´adquisició i processament.

El microscopi està equipat amb la unitat STEM i els detectors d´imatge de camp clar i camp obscur d´alt angle (HAADF), la qual cosa facilita l´observació de contrast de fases amb diferent nombre atòmic. La capacitat de caracterització química es completa amb el detector d´EDS X-Max 80 d´Oxford Instruments, amb una resolució de 127 eV i dotat per a l´execució d´anàlisi elemental d´àrees, puntuals i distribució espacial dels elements en la mostra (mapping).

Finalment, el microscopi incorpora la unitat DigiSTAR de Nanomegas per a l´adquisició de patrons de difracció en mode precessió i programari ATD-3D (Nanomegas) per a la reconstrucció automàtica de l´espai 3D dels patrons de difracció. Aquesta eina és extremadament important per a la caracterització d´estructures cristal·lines en les recerques de ciència de materials.


EMAS upv