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Microscopia electrónica de transmisión de alta resolución
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El microscopio electrónico de transmisión con 200 kV de aceleración está especialmente indicado para la nano-caracterización estructural y analítica de materiales pues dispone de un cañón de electrones de emisión de campo (FEG) que permite obtener haces muy intensos y de tamaño sub-nanométrico. Este equipo incorpora una lente objetivo de “Ultra Alta Resolución” que le confiere las siguientes capacidades:

Resolución

Punto a punto

0,19 nm.

Entre líneas

0,1 nm.

Tamaño de spot

Modo TEM

2 – 5 nm.

Modo EDS, NBD, CBD

0,5 – 2,4 nm.

Modo STEM

0,2 nm.

Al portamuestras convencional con una inclinación de +/- 25º se le puede acoplar un soporte especial de alto ángulo (+/- 70º) para uso en tomografía. Además se puede utilizar un portamuestras de doble inclinación para estudios de difracción. El movimiento de la muestra depende de un goniómetro que incluye un mecanismo piezoeléctrico que permite el desplazamiento suave y la corrección de la deriva a grandes aumentos.

Dispone de una cámara CCD de alta resolución (2048 x 2048 pixels) de la marca GATAN, modelo SC200 para la obtención de imágenes y el software Digital Micrograph para su control de adquisición y procesado.

El microscopio está equipado con la unidad STEM y los detectores de imagen de campo claro y de campo oscuro de alto ángulo (HAADF), que facilita la observación de contraste de fases con distinto número atómico. La capacidad de caracterización química se completa con el detector de EDS X-Max 80 de Oxford Instruments, con una resolución de 127 eV y dotado para la ejecución de análisis elemental de áreas, puntuales y distribución espacial de los elementos en la muestra (mapping).

Finalmente, el microscopio incorpora la unidad DigiSTAR de Nanomegas para la adquisición de patrones de difracción en modo precesión y software ATD-3D (Nanomegas) para la reconstrucción automática del espacio 3D de los patrones de difracción. Esta herramienta es extremadamente importante para la caracterización de estructuras cristalinas en las investigaciones de ciencia de materiales.


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