Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo con Cañón de Iones Focalizados (FIB) : Servicio de Microscopía Electrónica : UPV

Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo con Cañón de Iones Focalizados (FIB)

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Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo con Cañón de Iones Focalizados (FIB)

APLICACIONES:		FABRICANTE:
MARCA:	ZEISS	MODELO:	AURIGA Compact

Microscopía combinada de electrones e iones focalizados Detector de rayos X (EDS) Detector de electrones retrodispersados difractados (EBSD)		ZEISS ORSAY PHYSICS KLEINDIEK OXFORD INSTRUMENTS