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Secador por punto crítico
Servicio de Microscopía Electrónica Fichas Secador por punto crítico  ...

FICHA EQUIPO

Secador por Punto Crítico

MARCA: LEICA MODELO: CPD300


APLICACIONES: FABRICANTE:
Preparación de muestras para el microscopio electrónico de barrido
LEICA MICROSYSTEMS


EMAS upv