El microscopio electrónico de transmisión (TEM) es un instrumento que aprovecha los fenómenos físico-atómicos que se producen cuando un haz de electrones suficientemente acelerado colisiona con una muestra delgada convenientemente preparada. Cuando los electrones colisionan con la muestra, en función de su grosor y del tipo de átomos que la forman, parte de ellos son dispersados selectivamente, es decir, hay una gradación entre los electrones que la atraviesan directamente y los que son totalmente desviados. Todos ellos son conducidos y modulados por unas lentes para formar una imagen final sobre una CCD que puede tener miles de aumentos con una definición inalcanzable para cualquier otro instrumento. La información que se obtiene es una imagen con distintas intensidades de gris que se corresponden al grado de dispersión de los electrones incidentes.

La imagen del TEM tal como se ha descrito ofrece información sobre la estructura de la muestra, tanto si ésta es amorfa o cristalina.

Además, si la muestra es cristalina, es decir, hay una estructura de planos periódica, puede ocurrir que varias familias de esos planos cumplan la condición de Bragg y difracten de forma coherente la onda electrónica incidente. Esto da lugar a un diagrama de difracción, que es una imagen de distintos puntos ordenados respecto a un punto central (electrones transmitidos no desviados) que nos aportan información sobre la orientación y estructura del/los cristales presentes.

El JEM-1400Flash es un TEM especialmente diseñado para el estudio de muestras materiales. Su fuente de emisión es un cátodo termoiónico con filamento de LaB6 y la tensión de aceleración tiene un rango de 10 a 120 kV. La pieza polar elegida es la de alta resolución (HR). La resolución de este equipo es de 0,14 nm entre líneas en modo TEM.

El JEM-1400Flash está equipado con una cámara con sensor CMOS de alta sensibilidad y muy bajo nivel de señal de ruido, integrada en el propio software de control del microscopio. Su resolucón es de 2k x 2K, con tamaño de píxel de 21,7 x 21,7 micras y rango dinámico de 16 bit con velocidad de adquisición a máxima resolución de 30 fps. También incluye un sistema de corrección de desplazamiento en la adquisición de las imágenes.

El JEM-1400Flash incluye el detector STEM para la adquisición de imágenes en campo claro y campo oscuro. Su resolución es de 1,5 nm. a 120 kV.

El JEM-1400Flash incluye el detector EDS de Oxford Instruments, mod. Ultim Max TEM sin ventana, con un área de 80 mm² y todo el software necesario para el análisis elemental de las muestras: espectros, mapas, líneas y creación de informes de resultados.