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Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)
Servicio de Microscopía Electrónica Fichas Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)  ...

FICHA EQUIPO

Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)

MARCA: JEOL MODELO: JSM6300

APLICACIONES: FABRICANTE:
Detector de electrones secundarios (SE)
Detector de electrones retrodispersados (BSE)
Detector de rayos X (EDS)
Detector de rayos X (WDS)
Detector de electrones retrodispersados difractados (EBSD)
JEOL
JEOL
OXFORD INSTRUMENTS
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